Journal of Applied Physics
Feedback | Help | Exit
Journal of Applied Physics
   
 
 
 
Next Article
Eigenmode mediated excitation and radiation in a planar microcavity
We studied the effect of planar microcavity eigenmodes on the optical excitation efficiency and the luminescence of emission centers (erbium ions) introduced in the active layer of the microcavity str...

Surface characterization and functionalization of carbon nanofibers

J. Appl. Phys. 103, 061301 (2008); doi:10.1063/1.2840049

Published 17 March 2008

You are logged in to this journal.

K. L. Klein,1,2 A. V. Melechko,2,3 T. E. McKnight,4 S. T. Retterer,2,5 P. D. Rack,1,2 J. D. Fowlkes,2 D. C. Joy,1,2 and M. L. Simpson1,2
1Department of Materials Science and Engineering, University of Tennessee, Knoxville, Tennessee 37996, USA
2Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, Tennessee 37831, USA
3Material Science and Technology Division, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, Tennessee 37831, USA
4Engineering Science and Technology Division, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, Tennessee 37831, USA
5Biosciences Division, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, Tennessee 37831, USA
Carbon nanofibers are high-aspect ratio graphitic materials that have been investigated for numerous applications due to their unique physical properties such as high strength, low density, metallic conductivity, tunable morphology, chemical and environmental stabilities, as well as compatibility with organochemical modification. Surface studies are extremely important for nanomaterials because not only is the surface structurally and chemically quite different from the bulk, but its properties tend to dominate at the nanoscale due to the drastically increased surface-to-volume ratio. This review surveys recent developments in surface analysis techniques used to characterize the surface structure and chemistry of carbon nanofibers and related carbon materials. These techniques include scanning probe microscopy, infrared and electron spectroscopies, electron microscopy, ion spectrometry, temperature-programed desorption, and atom probe analysis. In addition, this article evaluates the methods used to modify the surface of carbon nanofibers in order to enhance their functionality to perform across an exceedingly diverse application space. ©2008 American Institute of Physics
History: Received 12 November 2007; accepted 10 December 2007; published 17 March 2008
Permalink: http://link.aip.org/link/?JAPIAU/103/061301/1
FULL TEXT OPTIONS   (FREE)
Download HTML Download Sectioned HTML Download PDF (2897 kB) Author Select

KEYWORDS and PACS

Keywords
PACS
  • 82.65.+r
    Surface and interface chemistry; heterogeneous catalysis at surfaces
  • 68.43.Vx
    Thermal desorption
  • 68.37.-d
    Microscopy of surfaces, interfaces, and thin films
  • 01.30.Rr
    Surveys and tutorial papers; resource letters
  • YEAR: 2008

RELATED DATABASES

Scopus

View This Record in Scopus

Web of Science

View this record in Web of Science

View Web of Science related articles

PUBLICATION DATA

ISSN:
0021-8979 (print)   1089-7550 (online)
Publisher:
AIP is a member of CrossRef AIP

REFERENCES (123)
View in Separate Window/Tab
  1. M. S. Dresselhaus, Encyclopedia of Materials: Science and Technology (Elsevier Science, New York, 2001).
  2. M. Terrones and H. Terrones, Philos. Trans. R. Soc. London, Ser. A 361, 2789 (2003). [MEDLINE]
  3. H. W. Kroto, J. R. Heath, S. C. Obrien, R. F. Curl, and R. E. Smalley, Nature (London) 318, 162 (1985).
  4. A. Krishnan, E. Dujardin, M. M. J. Treacy, J. Hugdahl, S. Lynum, and T. W. Ebbesen, Nature (London) 388, 451 (1997). [Inspec] [ISI]
  5. A. V. Melechko, V. I. Merkulov, T. E. McKnight, M. A. Guillorn, K. L. Klein, D. H. Lowndes, and M. L. Simpson, J. Appl. Phys. 97, 041301 (2005).
  6. A. Javey, J. Guo, Q. Wang, M. Lundstrom, and H. J. Dai, Nature (London) 424, 654 (2003). [MEDLINE]
  7. M. F. Yu, O. Lourie, M. J. Dyer, K. Moloni, T. F. Kelly, and R. S. Ruoff, Science 287, 637 (2000). [MEDLINE]
  8. S. E. Baker, P. E. Colavita, K. Y. Tse, and R. J. Hamers, Chem. Mater. 18, 4415 (2006).
  9. S. E. Baker, K. Y. Tse, E. Hindin, B. M. Nichols, T. L. Clare, and R. J. Hamers, Chem. Mater. 17, 4971 (2005).
  10. B. L. Fletcher, T. E. McKnight, A. V. Melechko, M. L. Simpson, and M. J. Doktycz, Nanotechnology 17, 2032 (2006).
  11. T. E. McKnight, C. Peeraphatdit, S. W. Jones, J. D. Fowlkes, B. L. Fletcher, K. L. Klein, A. V. Melechko, M. J. Doktycz, and M. L. Simpson, Chem. Mater. 18, 3203 (2006).
  12. T. E. McKnight, A. V. Melechko, D. W. Austin, T. Sims, M. A. Guillorn, and M. L. Simpson, J. Phys. Chem. B 108, 7115 (2004). [ISI]
  13. T. E. McKnight, A. V. Melechko, B. L. Fletcher, S. W. Jones, D. K. Hensley, D. B. Peckys, G. D. Griffin, M. L. Simpson, and M. N. Ericson, J. Phys. Chem. B 110, 15317 (2006). [MEDLINE]
  14. R. J. Rice and R. L. McCreery, Anal. Chem. 61, 1637 (1989). [ISI]
  15. A. V. Melechko, K. L. Klein, J. D. Fowlkes, D. K. Hensley, I. A. Merkulov, T. E. McKnight, P. D. Rack, J. A. Horton, and M. L. Simpson, J. Appl. Phys. 102, 074314 (2007). [ISI]
  16. M. A. Guillorn, M. L. Simpson, G. J. Bordonaro, V. I. Merkulov, L. R. Baylor, and D. H. Lowndes, J. Vac. Sci. Technol. B 19, 573 (2001).
  17. M. A. Guillorn, X. Yang, A. V. Melechko, D. K. Hensley, M. D. Hale, V. I. Merkulov, M. L. Simpson, L. R. Baylor, W. L. Gardner, and D. H. Lowndes, J. Vac. Sci. Technol. B 22, 35 (2004).
  18. X. J. Yang, M. A. Guillorn, D. Austin, A. V. Melechko, H. T. Cui, H. M. Meyer, V. I. Merkulov, J. B. O. Caughman, D. H. Lowndes, and M. L. Simpson, Nano Lett. 3, 1751 (2003). [ISI]
  19. W. I. Milne, K. B. K. Teo, M. Mann, I. Y. Y. Bu, G. A. J. Amaratunga, N. De Jonge, M. Allioux, J. T. Oostveen, P. Legagneux, E. Minoux, L. Gangloff, L. Hudanski, J. P. Schnell, L. D. Dieumegard, F. Peauger, T. Wells, and M. El-Gomati, Phys. Status Solidi A 203, 1058 (2006).
  20. A. Chambers, C. Park, R. T. K. Baker, and N. M. Rodriguez, J. Phys. Chem. B 102, 4253 (1998).
  21. B. T. Hang, M. Eashira, I. Watanabe, S. Okada, J. I. Yamaki, S. H. Yoon, and I. Mochida, J. Power Sources 143, 256 (2005).
  22. L. Li and C. M. Lukehart, Chem. Mater. 18, 94 (2006).
  23. W. H. Zhong, J. Li, C. M. Lukehart, and L. Y. R. Xu, Polym. Compos. 26, 128 (2005).
  24. S. E. Baker, K. Y. Tse, C. S. Lee, and R. J. Hamers, Diamond Relat. Mater. 15, 433 (2006).
  25. J. Li, H. T. Ng, A. Cassell, W. Fan, H. Chen, Q. Ye, J. Koehne, J. Han, and M. Meyyappan, Nano Lett. 3, 597 (2003).
  26. T. E. McKnight, A. V. Melechko, D. K. Hensley, D. G. J. Mann, G. D. Griffin, and M. L. Simpson, Nano Lett. 4, 1213 (2004). [ISI]
  27. D. G. J. Mann, T. E. McKnight, A. V. Melechko, M. L. Simpson, and G. S. Sayler, Biosens. Bioelectron. 97, 680 (2007).
  28. T. E. McKnight, A. V. Melechko, G. D. Griffin, M. A. Guillorn, V. I. Merkulov, F. Serna, D. K. Hensley, M. J. Doktycz, D. H. Lowndes, and M. L. Simpson, Nanotechnology 14, 551 (2003). [Inspec] [ISI]
  29. A. V. Melechko, T. E. McKnight, M. A. Guillorn, V. I. Merkulov, B. Ilic, M. J. Doktycz, D. H. Lowndes, and M. L. Simpson, Appl. Phys. Lett. 82, 976 (2003). [ISI]
  30. B. L. Fletcher, E. D. Hullander, A. V. Melechko, T. E. McKnight, K. L. Klein, D. K. Hensley, J. L. Morrell, M. L. Simpson, and M. J. Doktycz, Nano Lett. 4, 1809 (2004). [ISI]
  31. L. Zhang, A. V. Melechko, V. I. Merkulov, M. A. Guillorn, M. L. Simpson, D. H. Lowndes, and M. J. Doktycz, Appl. Phys. Lett. 81, 135 (2002). [ISI]
  32. M. A. Guillorn, T. E. McKnight, A. Melechko, V. I. Merkulov, P. F. Britt, D. W. Austin, D. H. Lowndes, and M. L. Simpson, J. Appl. Phys. 91, 3824 (2002). [ISI]
  33. T. E. McKnight, A. V. Melechko, M. A. Guillorn, V. I. Merkulov, M. J. Doktycz, C. T. Culbertson, S. C. Jacobson, D. H. Lowndes, and M. L. Simpson, J. Phys. Chem. B 107, 10722 (2003). [ISI]
  34. T. D. B. Nguyen-Vu, H. Chen, A. M. Cassell, R. Andrews, M. Meyyappan, and J. Li, Small 2, 89 (2006). [MEDLINE]
  35. Z. Yu, T. E. McKnight, M. N. Ericson, A. V. Melechko, M. L. Simpson, and B. Morrison, Nano Lett. 7, 2188 (2007). [MEDLINE]
  36. H. Cui, S. V. Kalinin, X. Yang, and D. H. Lowndes, Nano Lett. 4, 2157 (2004).
  37. M. A. Guillorn, A. V. Melechko, and M. L. Simpson, United States Patent #7,151,256 (2005).
  38. Q. Ye, A. Cassell, H. Liu, K.-J. Chao, J. Han, and M. Meyyappan, Nano Lett. 4, 1301 (2004).
  39. A. Hirsch, Angew. Chem., Int. Ed. 41, 1853 (2002). [ISI] [MEDLINE]
  40. N. N. Naguib, Y. M. Mueller, P. M. Bojczuk, M. P. Rossi, P. D. Katsikis, and Y. Gogotsi, Nanotechnology 16, 567 (2005). [ISI]
  41. J. I. Paredes, A. Martinez-Alonso, and J. M. D. Tascon, Carbon 40, 1101 (2002).
  42. J. I. Paredes, A. Martinez-Alonso, and J. M. D. Tascon, Langmuir 19, 7665 (2003).
  43. J. I. Paredes, A. Martinez-Alonso, and J. M. D. Tascon, Langmuir 18, 4314 (2002).
  44. J. I. Paredes, M. Burghard, A. Martinez-Alonso, and J. M. D. Tascon, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 80, 675 (2005). [ISI]
  45. M. Endo, Y. A. Kim, T. Takeda, S. H. Hong, T. Matusita, T. Hayashi, and M. S. Dresselhaus, Carbon 39, 2003 (2001). [Inspec] [ISI]
  46. S. H. Yoon, S. Y. Lim, S. H. Hong, I. Mochida, B. An, and K. Yokogawa, Carbon 42, 3087 (2004).
  47. T. G. Ros, A. J. van Dillen, J. W. Geus, and D. C. Koningsberger, ChemPhysChem 2, 209 (2002).
  48. T. G. Ros, A. J. van Dillen, J. W. Geus, and D. C. Koningsberger, Chem.-Eur. J. 8, 1151 (2002). [MEDLINE]
  49. T. G. Ros, A. J. van Dillen, J. W. Geus, and D. C. Koningsberger, Chem.-Eur. J. 8, 2868 (2002). [MEDLINE]
  50. J. Li, M. J. Vergne, E. D. Mowles, W. H. Zhong, D. M. Hercules, and C. M. Lukehart, Carbon 43, 2883 (2005). [Inspec]
  51. L. Han, W. Wu, F. L. Kirk, J. Luo, M. M. Maye, N. N. Kariuki, Y. H. Lin, C. M. Wang, and C. J. Zhong, Langmuir 20, 6019 (2004). [MEDLINE]
  52. S. J. Oh, H. J. Lee, D. K. Keum, S. W. Lee, D. H. Wang, S. Y. Park, L. S. Tan, and J. B. Baek, Polymer 47, 1132 (2006).
  53. F. Hoshi, K. Tsugawa, A. Goto, T. Ishikura, S. Yamashita, M. Yumura, T. Hirao, K. Oura, and Y. Koga, Diamond Relat. Mater. 10, 254 (2001). [Inspec] [ISI]
  54. M. L. Toebes, E. M. P. van Heeswijk, J. H. Bitter, A. J. van Dillen, and K. P. de Jong, Carbon 42, 307 (2004).
  55. P. V. Lakshminarayanan, H. Toghiani, and C. U. Pittman, Carbon 42, 2433 (2004). [Inspec]
  56. H. Bubert, X. Ai, S. Haiber, M. Heintze, V. Bruser, E. Pasch, W. Brandl, and G. Marginean, Spectrochim. Acta, Part B 57, 1601 (2002). [ISI]
  57. F. Winter, G. L. Bezemer, C. van der Spek, J. D. Meeldijk, A. J. van Dillen, J. W. Geus, and K. P. de Jong, Carbon 43, 327 (2005).
  58. W. Xia, D. S. Su, A. Birkner, L. Ruppel, Y. M. Wang, C. Woll, J. Qian, C. H. Liang, G. Marginean, W. Brandl, and M. Muhler, Chem. Mater. 17, 5737 (2005).
  59. P. Chen, X. Wu, X. Sun, J. Lin, W. Ji, and K. L. Tan, Phys. Rev. Lett. 82, 2548 (1999).
  60. K. Umishita, Y. Ochiai, K. Iwasaki, and S. Hino, Synth. Met. 121, 1159 (2001). [Inspec] [ISI]
  61. H. Ago, T. Kugler, F. Cacialli, K. Petritsch, R. H. Friend, W. R. Salaneck, Y. Ono, T. Yamabe, and K. Tanaka, Synth. Met. 103, 2494 (1999).
  62. S. C. Lim, C. S. Jo, H. J. Jeong, Y. M. Shin, Y. H. Lee, I. A. Samayoa, and J. Choi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 5635 (2002).
  63. A. P. Dementjev, K. I. Maslakova, and A. V. Naumkin, Appl. Surf. Sci. 245, 128 (2005).
  64. Y. F. Zhu, T. Yi, B. Zheng, and L. L. Cao, Appl. Surf. Sci. 137, 83 (1999). [Inspec] [ISI]
  65. W. H. Wang, Y. T. Lin, and C. T. Kuo, Diamond Relat. Mater. 14, 907 (2005).
  66. H. Cui, X. Yang, H. M. Meyer, L. R. Baylor, M. L. Simpson, W. L. Gardner, D. H. Lowndes, L. An, and J. Liu, J. Mater. Res. 20, 850 (2005).
  67. K. B. K. Teo, M. Chhowalla, G. A. J. Amaratunga, W. I. Milne, D. G. Hasko, G. Pirio, P. Legagneux, F. Wyczisk, and D. Pribat, Appl. Phys. Lett. 79, 1534 (2001). [ISI]
  68. K. B. K. Teo, M. Chhowalla, G. A. J. Amaratunga, W. I. Milne, G. Pirio, P. Legagneux, F. Wyczisk, J. Olivier, and D. Pribat, J. Vac. Sci. Technol. B 20, 116 (2002).
  69. W. H. Wang, K. M. Chao, I. J. Teng, and C. T. Kuo, Surf. Coat. Technol. 200, 3206 (2006).
  70. K. L. Klein, A. V. Melechko, P. D. Rack, J. D. Fowlkes, H. M. Meyer, and M. L. Simpson, Carbon 43, 1857 (2005). [Inspec]
  71. C. H. Weng, K. C. Leou, H. W. Wei, Z. Y. Juang, M. T. Wei, C. H. Tung, and C. H. Tsai, Appl. Phys. Lett. 85, 4732 (2004). [ISI]
  72. Y. Ominami, Q. Ngo, A. J. Austin, H. Yoong, C. Y. Yang, A. M. Cassell, B. A. Cruden, J. Li, and M. Meyyappan, Appl. Phys. Lett. 87, 233105, (2005).
  73. H. H. Ye, N. Naguib, Y. Gogotsi, A. G. Yazicioglu, and C. M. Megaridis, Nanotechnology 15, 232 (2004). [ISI]
  74. L. L. Chen, H. H. Ye, and Y. Gogotsi, J. Am. Ceram. Soc. 87, 147 (2004).
  75. B. Khare, M. Meyyappan, M. H. Moore, P. Wilhite, H. Imanaka, and B. Chen, Nano Lett. 3, 643 (2003). [Inspec] [ISI]
  76. T. I. T. Okpalugo, P. Papakonstantinou, H. Murphy, J. McLaughlin, N. M. D. Brown, and T. McNally, Fullerenes, Nanotubes, Carbon Nanostruct. 13, 477 (2005).
  77. W. Y. Chen, C. Y. Chen, K. Y. Hsu, C. C. Wang, and Y. C. Ling, Appl. Surf. Sci. 231–232, 845 (2004). [Inspec]
  78. P. He, D. L. Shi, J. Lian, L. M. Wang, R. C. Ewing, W. van Ooij, W. Z. Li, and Z. F. Ren, Appl. Phys. Lett. 86, 043107 (2005). [ISI]
  79. D. L. Shi, J. Lian, P. He, L. M. Wang, W. J. van Ooij, M. Schulz, Y. J. Liu, and D. B. Mast, Appl. Phys. Lett. 81, 5216 (2002).
  80. H. P. Boehm, Carbon 40, 145 (2002). [Inspec]
  81. J. H. Zhou, Z. J. Sui, J. Zhu, P. Li, D. Chen, Y. C. Dal, and W. K. Yuan, Carbon 45, 785 (2007).
  82. P. Piseri, E. Barborini, M. Marino, P. Milani, C. Lenardi, L. Zoppi, and L. Colombo, J. Phys. Chem. B 108, 5157 (2004).
  83. A. Zuttel, P. Sudan, P. Mauron, T. Kiyobayashi, C. Emmenegger, and L. Schlapbach, Int. J. Hydrogen Energy 27, 203 (2002).
  84. A. C. Dillon, K. M. Jones, T. A. Bekkedahl, C. H. Kiang, D. S. Bethune, and M. J. Heben, Nature (London) 386, 377 (1997).
  85. M. Watanabe, T. Yagyu, O. Nishikawa, T. Yamaguchi, N. Choi, H. Tokumoto, and S. Nakano, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 7469 (2002).
  86. O. Nishikawa, M. Watanabe, T. Murakami, T. Yagyu, and M. Taniguchi, New Diamond Front. Carbon Technol. 13, 257 (2003).
  87. Y. Chen, L. P. Guo, S. Patel, and D. T. Shaw, J. Mater. Sci. 35, 5517 (2000).
  88. V. I. Merkulov, M. A. Guillorn, D. H. Lowndes, M. L. Simpson, and E. Voelkl, Appl. Phys. Lett. 79, 1178 (2001). [ISI]
  89. A. V. Melechko, T. E. McKnight, D. K. Hensley, M. A. Guillorn, A. Y. Borisevich, V. I. Merkulov, D. H. Lowndes, and M. L. Simpson, Nanotechnology 14, 1029 (2003). [ISI]
  90. V. I. Merkulov, A. V. Melechko, M. A. Guillorn, D. H. Lowndes, and M. L. Simpson, Appl. Phys. Lett. 80, 476 (2002). [ISI]
  91. C. P. Ewels and M. Glerup, J. Nanosci. Nanotechnol. 5, 1345 (2005). [Inspec] [MEDLINE]
  92. F. Villalpando-Paez, A. Zamudio, A. L. Elias, H. Son, E. B. Barros, S. G. Chou, Y. A. Kim, H. Muramatsu, T. Hayashi, J. Kong, H. Terrones, G. Dresselhaus, M. Endo, M. Terrones, and M. S. Dresselhaus, Chem. Phys. Lett. 424, 345 (2006).
  93. J. D. Fowlkes, B. L. Fletcher, E. D. Hullander, K. L. Klein, D. K. Hensley, A. V. Melechko, M. L. Simpson, and M. J. Doktycz, Nanotechnology 16, 3101 (2005).
  94. J. D. Fowlkes, E. D. Hullander, B. L. Fletcher, S. T. Retterer, A. V. Melechko, D. K. Hensley, M. L. Simpson, and M. J. Doktycz, Nanotechnology 17, 5659 (2006).
  95. A. V. Melechko, T. E. McKnight, M. A. Guillorn, D. W. Austin, B. Ilic, V. I. Merkulov, M. J. Doktycz, D. H. Lowndes, and M. L. Simpson, J. Vac. Sci. Technol. B 20, 2730 (2002).
  96. J. D. Whittaker, M. Brink, G. A. Husseini, M. R. Linford, and R. C. Davis, Appl. Phys. Lett. 83, 5307 (2003). [ISI]
  97. J. S. Moon, P. S. Alegaonkar, J. H. Han, T. Y. Lee, J. B. Yoo, and J. M. Kim, J. Appl. Phys. 100, 104303 (2006).
  98. Y. Abdi, S. Mohajerzadeh, H. Hoseinzadegan, and J. Koohsorkhi, Appl. Phys. Lett. 88, 053124 (2006).
  99. M. S. Dhindsa, N. R. Smith, J. Heikenfeld, P. D. Rack, J. D. Fowlkes, M. J. Doktycz, A. V. Melechko, and M. L. Simpson, Langmuir 22, 9030 (2006). [MEDLINE]
  100. C. F. Herrmann, F. H. Fabreguette, D. S. Finch, R. Geiss, and S. M. George, Appl. Phys. Lett. 87, 123110 (2005).
  101. J. S. Lee, B. Min, K. Cho, S. Kim, J. Park, Y. T. Lee, N. S. Kim, M. S. Lee, S. O. Park, and J. T. Moon, J. Cryst. Growth 254, 443 (2003). [ISI]
  102. A. M. Cassell, J. Li, R. M. D. Stevens, J. E. Koehne, L. Delzeit, H. T. Ng, Q. Ye, J. Han, and M. Meyyappan, Appl. Phys. Lett. 85, 2364 (2004). [ISI]
  103. J. S. Ye, H. F. Cui, Y. Wen, W. D. Zhang, G. Q. Xu, and F. S. Sheu, Microchim. Acta 152, 267 (2006).
  104. Q. Ngo, B. A. Cruden, A. M. Cassell, G. Sims, M. Meyyappan, J. Li, and C. Y. Yang, Nano Lett. 4, 2403 (2004).
  105. K. M. Metz, K. Y. Tse, S. E. Baker, E. C. Landis, and R. J. Hamers, Chem. Mater. 18, 5398 (2006).
  106. J. H. Chen, Z. P. Huang, D. Z. Wang, S. X. Yang, W. Z. Li, J. G. Wen, and Z. F. Ren, Synth. Met. 125, 289 (2001). [ISI]
  107. B. L. Fletcher, T. E. McKnight, J. D. Fowlkes, D. P. Allison, M. L. Simpson, and M. J. Doktycz, Synth. Met. 157, 282 (2007). [MEDLINE]
  108. R. T. K. Baker, Encyclopedia of Materials: Science and Technology (Elsevier Science, New York, 2001), p. 932–941.
  109. T. Werder, J. H. Walther, R. L. Jaffe, T. Halicioglu, F. Noca, and P. Koumoutsakos, Nano Lett. 1, 697 (2001).
  110. B. J. Taft, A. D. Lazareck, G. D. Withey, A. J. Yin, J. M. Xu, and S. O. Kelley, J. Am. Chem. Soc. 126, 12750 (2004). [MEDLINE]
  111. Y. Gogotsi, J. A. Libera, A. Guvenc-Yazicioglu, and C. M. Megaridis, Appl. Phys. Lett. 79, 1021 (2001).
  112. M. P. Rossi, H. H. Ye, Y. Gogotsi, S. Babu, P. Ndungu, and J. C. Bradley, Nano Lett. 4, 989 (2004). [ISI]
  113. Y. Sato, K. Shibata, H. Kataoka, S. Ogino, F. Bunshi, A. Yokoyama, K. Tamura, T. Akasaka, M. Uo, K. Motomiya, B. Jeyadevan, R. Hatakeyama, F. Watari, and K. Tohji, Mol. Biosyst. 1, 142 (2005).
  114. S. Lim, S. H. Yoon, I. Mochida, and J. H. Chi, J. Phys. Chem. B 108, 1533 (2004).
  115. C. V. Nguyen, L. Delzeit, A. M. Cassell, J. Li, J. Han, and M. Meyyappan, Nano Lett. 2, 1079 (2002). [Inspec] [ISI]
  116. J. Li, J. E. Koehne, A. M. Cassell, H. Chen, H. T. Ng, Q. Ye, W. Fan, J. Han, and M. Meyyappan, Electroanalysis 17, 15 (2005). [ISI]
  117. K. Esumi, M. Sugiura, T. Mori, K. Meguro, and H. Honda, Colloids Surf. 19, 331 (1986) (ScienceDirect).
  118. P. G. He and L. M. Dai, Chem. Commun., issue 3 (2004), p. 348.
  119. Q. D. Chen, L. M. Dai, M. Gao, S. M. Huang, and A. Mau, J. Phys. Chem. B 105, 618 (2001). [Inspec] [ISI]
  120. L. J. Ci, H. W. Zhu, B. Q. Wei, C. L. Xu, J. Liang, and D. H. Wu, Mater. Lett. 43, 291 (2000).
  121. K. Wang, H. A. Fishman, H. J. Dai, and J. S. Harris, Nano Lett. 6, 2043 (2006). [MEDLINE]
  122. K. Wang, W. W. Li, and C. Gao, J. Appl. Polym. Sci. 105, 629 (2007).
  123. C. S. Lee, S. E. Baker, M. S. Marcus, W. S. Yang, M. A. Eriksson, and R. J. Hamers, Nano Lett. 4, 1713 (2004). [Inspec]

Copyright © American Institute of Physics